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UG-S20;UG-S50
純 度:光譜法分析測試雜質(zhì)含量.
晶粒度:X—衍射(XRD)線寬化法平均晶粒的測定.
顆粒度:GB/T13221納米粉末粒度分布的測定 X射線小角度散射法;GB/T13390粉末比表面的測定—氮吸附法(BET):透射電鏡(TEM)觀察.
比表面積:GB/T13390粉末比表面的測定—氮吸附法(BET).
參數(shù)指標:
品名 | 納米二氧化錫 |
平均粒徑 | 20nm 50nm |
純度 | % |
比表面積 | 50m2/g 15m2/g |
主要用途:
①化工原料,ITO等半導體電子工業(yè)材料,
②陶瓷釉料的遮光劑、乳濁劑、著色劑,氣敏元件材料,
③導電陶瓷及電極材料,抗菌材料,低輻射玻璃,抗靜電材料,有機合成催化劑,錫鹽,織物媒染劑和增重劑,鋼和玻璃的磨光劑等.
④銀錫觸頭材料.銀氧化錫觸頭材料是近年發(fā)展迅速的新型環(huán)保電觸頭材料,是替代傳統(tǒng)銀氧化鎘觸頭的理想材料;
⑤塑料和建筑行業(yè)的抗靜電添加劑;
⑥用于平板和CRT(陰極射線管)顯示的透明導電材料;
⑦電工及電子元件;
⑧用于熔煉特種玻璃的氧化錫電極 ;
⑨用于光催化抗菌材料等.
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